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特思迪取得半导体材料亚概况毁伤层的检测方式
2025-06-10 11:33

  金融界2025年4月18日动静,国度学问产权局消息显示,特思迪半导体设备无限公司取得一项名为“半导体材料亚概况毁伤层的检测方式”的专利,申请日期为2024年12月。天眼查材料显示,特思迪半导体设备无限公司,成立于2020年,位于市,是一家以处置公用设备制制业为从的企业。企业注册本钱1656。925954万人平易近币。通过天眼查大数据阐发,特思迪半导体设备无限公司参取招投标项目106次,财富线条,此外企业还具有行政许可21个。


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